机译:传统和高κ电介质的30 nm FET中的随机电报噪声
机译:高介电常数/金属栅的高性能p-MOSFET的随机电报信号噪声的表征
机译:45纳米沟道长度常规MOSFET器件中随机电报噪声的静态分析:阈值电压和导通电流波动
机译:具有SiO_2 / HfO_2栅介质的按比例缩放的高κ/金属栅MOSFET中随机电报噪声的表征
机译:使用随机电报信号进行半导体/栅极介电缺陷的测量,建模和仿真。
机译:在存在随机界面陷阱的情况下16nm栅极高κ/金属栅极体FinFET器件的电特性波动
机译:在随机电报噪声存在下,纠缠和状态空间轨迹的动力学以及随后的四比特系统:公共环境(CE)与独立环境(IE)